R. Mom, W. Onderwaater, M. Rost, M. Jankowski, S. Wenzel, L. Jacobse, P. Alkemade, V. Vandalon, M. van Spronsen, M. van Weeren, B. Crama, P. van der Tuijn, R. Felici, W. Kessels, F. Carlà, J. Frenken, I. Groot
Simultaneous scanning tunneling microscopy and synchrotron X-ray measurements in a gas environment
Ultramicroscopy Vol. 182 (2017)