MFITFインピーダンス試験装置

付属のMFITF試験装置を使用することにより、最高の測定結果を取得することができます。試験装置とキャリアは、どちらも寄生容量や減衰を最小限に抑えるよう設計されています。一方で、機器は市販されているその他の試験装置やインピーダンスセットアップとも完全な互換性があります。AUX出力と入力が、DUTやアナログフィードバックから別の機器に対し、追加のコントロールシグナルを提供・受信します。DIOコネクタとトリガポートにより、セットアップのその他のパーツを用いた正確な同期を必要とする測定方法が可能になります。

MFIAインピーダンスアナライザは、必ずMFITFインピーダンス試験装置と組み合わせて販売されています。以下に表示されている試験装置は、MFIAのフロントパネルのLCUR、LPOT、HPOT、HCURコネクタに直接接続されています。BNCコネクタの間隔には、LCRメータやインピーダンスアナライザ試験装置に対する確立された標準との互換性があります。MFITFは、表面実装型デバイス(SMD)用やスルーホールコンポーネント用の低静電容量・低損失DUTキャリアとセットになっています。MFIAをMFITFやキャリアと併用することで、最高精度を確保します。

上図のMFITFのフロントパネルは、カスタマイズされたDUTホルダの4つの信号接触と4つのガード接触をもたらす8ピン・コネクタ(Sullins PPPC081LFBN-RC、デジキー部品番号S7041-ND)を統合します。

キャリア/サンプルホルダ

以下の12 PCBベースのキャリアはMFITFと併用することで、以下もたらします。

オープン(1個) 補償・試験用オープン回路
ショート(1個) 補償・試験用短絡
1 kΩ 0.05% (1個) 補償や試験における0.05%の精度をともなう1 kΩ負荷
4Pt(4個) 4端末接続付きSMD用キャリア
2Pt(3個) 2端末接続付きSMD用キャリア
スルーホール(2個) スルーホールコンポーネント用キャリア

MFITF仕様

この試験装置は、様々なリード型デバイスのインピーダンス評価のために設計されています。MFITFは、幅広いインピーダンス測定範囲を実現するケルビン接触を使用します。接触チップは、デバイスの形状によって変更することが可能です。

周波数範囲 DC~10 MHz
最大電圧 ±42 V、ACおよびDC
適用可能な機器 MFIA、MFLI
端末コネクタ 4端末ペア、BNC、22 mm間隔
寸法 8.7 x 2.7 x 4.1 cm
3.43 x 10.63 x 1.57インチ
重量 113 g
動作温度 +5°C~+40°C
寄生容量試験装置/キャリア < 2 fF / < 8 fF
DUT接続 PCBキャリア、8ピン・コネクタ(Sullins PPPC081LFBN-RC)

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