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Aperçu de la microscopie à sonde locale

Les techniques de microscopies à sonde locale (SPM) peuvent être très variées selon l'environnement de mesure (ambiant, liquide ou sous vide), le type de force à l'étude (à courte ou longue portée) ou le type d'excitation (mécanique, électrique, magnétique ou optique). Le SPM est un outil d'imagerie haute résolution bien établi. Il est fréquemment utilisé dans des projets interdisciplinaires dans les domaines de la nanotechnologie et de la nano-optique, et sert à l'étude et la manipulation de nano-objets tels que des atomes, des molécules et des boites quantiques.

Les points forts de Zurich Instruments dans ce domaine se concentrent sur les nouveaux developpements instrumentaux, liés à certains modes d'opération faisant appel à une acquisition multi-canaux et multi-fréquence, avec de nouveaux capteurs, des boucles d'asservissement rapides ou un traitement des données en temps réel. Avec une gamme d'instruments couvrant la plage de DC à 600 MHz, Zurich Instruments aide les experts en champ proche à réaliser des mesures dans les domaines temporel et fréquentiel pour une meilleure compréhension des interactions pointe-échantillon.

Comme le montre le tableau ci-dessous, chaque catégorie d'instrument peut se doter d'options qui en étendent les fonctionnalités : par exemple, il est possible de synchroniser plusieurs instruments entre eux à mesure que les besoins de mesure évoluent.

Zurich Instruments est au service de la communauté SPM dans son ensemble, fournissant des solutions intégrées avec Scienta Omicron pour les systèmes UHV-SPM et avec Bruker Anasys Instruments pour la microscopie à force atomique et la spectroscopie infrarouge (AFM-IR). Tous nos instruments peuvent facilement s'adapter à la plupart des microscopes commerciaux ou faits maison par voies analogique et numérique à travers les modules d'accès au signal (SAM) respectifs. Toutes les données générées en interne par la détection synchrone et les boucles PID sont disponibles sous forme d'images ou d'un flux de données déclenché par le module d'acquisition de données (DAQ). Quatre sorties auxiliaires analogiques sont disponibles sur chaque instrument pour un acheminement direct des signaux d'asservissement vers le microscope.

SPM Overview

Trois raisons pour utiliser les instruments de Zurich Instruments pour le champ proche

  • Implémentez rapidement n'importe quel mode SPM ou développez de nouvelles techniques d'instrumentation sur une plate-forme SPM existante.
  • Travaillez avec le meilleur rapport signal sur bruit ou la plus grande vitesse de démodulation tout en optimisant les paramètres de la mesure en fonction de vos besoins expérimentaux.
  • Explorez votre espace des paramètres grâce à une multitude d'outils d'analyse et d'acquisition des données dans les domaines temporel et fréquentiel.

 

Plateforme MFLI HF2LI UHFLI
Gamme de fréquences
Taux d'échantillonnage
DC - 5 MHz
60 MSa/s
DC - 50 MHz
210 MSa/s
DC - 600 MHz
1,8 GSa/s
Modes les mieux adaptés
Points forts
  • Grande sensibilité sous 5 MHz
  • Seuil de déclenchement (protection de pointes)
  • Mesure précise de l'impédance
  • Détection verticale et latérale simultanée
  • Contrôle de 2 régimes d'excitation distincts
  • "Sideband analysis"
  • Taux de transfert le plus élevé
  • Vitesse de démodulation la plus rapide
  • Générateur de formes d'onde arbitraires combiné à l'analyse temporelle
Options pertinentes en SPM
Logiciels et API Le logiciel LabOne® et les interfaces de programmation (API) pour Python, C, MATLAB®, LabVIEW™ et .NET sont disponibles sur toutes les plateformes

Consultez nos pages d'applications SPM pour en savoir plus sur certains des modes mentionnés ci-dessus, et contactez-nous pour discuter de vos besoins en matière d'application ou d'adaptation. Nous serons heureux de mettre en place des démonstrations à distance de nos instruments dans le cadre de SPM.

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