Les techniques de microscopies à sonde locale (SPM) peuvent être très variées selon l'environnement de mesure (ambiant, liquide ou sous vide), le type de force à l'étude (à courte ou longue portée) ou le type d'excitation (mécanique, électrique, magnétique ou optique). Le SPM est un outil d'imagerie haute résolution bien établi. Il est fréquemment utilisé dans des projets interdisciplinaires dans les domaines de la nanotechnologie et de la nano-optique, et sert à l'étude et la manipulation de nano-objets tels que des atomes, des molécules et des boites quantiques.
Les points forts de Zurich Instruments dans ce domaine se concentrent sur les nouveaux developpements instrumentaux, liés à certains modes d'opération faisant appel à une acquisition multi-canaux et multi-fréquence, avec de nouveaux capteurs, des boucles d'asservissement rapides ou un traitement des données en temps réel. Avec une gamme d'instruments couvrant la plage de DC à 600 MHz, Zurich Instruments aide les experts en champ proche à réaliser des mesures dans les domaines temporel et fréquentiel pour une meilleure compréhension des interactions pointe-échantillon.