Die Rastersondenmikroskopie (SPM) nimmt verschiedene Formen an, abhängig von der Betriebsumgebung (Normalbedingungen, Flüssigkeit oder Vakuum), der Art der untersuchten Messkraft (Nah- oder Fernbereich) und dem Aktuatorschema (mechanisch, elektrisch, magnetisch oder optisch). SPM ist ein gut etabliertes hochauflösendes Abbildungswerkzeug. Es wird häufig in interdisziplinären Projekten in den Bereichen Nanotechnologie und Nano-Optik eingesetzt und kann zur Untersuchung und Manipulation von Nano-Objekten wie einzelnen Atomen, einzelnen Molekülen und Quantenpunkten verwendet werden.
Zurich Instruments konzentriert sich auf die Herausforderungen der Instrumentierung in der SPM, insbesondere auf solche, die mit neuen Betriebsarten, neuen Sensoren oder schneller Echtzeit-Datenerfassung und Feedback-Schleifen zusammenhängen. Mit Instrumenten, die Frequenzen von DC bis 600 MHz abdecken, hilft Zurich Instruments SPM-Spezialisten, Datenanalysen im Zeit- und Frequenzbereich durchzuführen, um komplexe Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe zu erfassen und zu kontrollieren.