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Übersichtsseite Rastersondenmikroskopie

Die Rastersondenmikroskopie (SPM) nimmt verschiedene Formen an, abhängig von der Betriebsumgebung (Normalbedingungen, Flüssigkeit oder Vakuum), der Art der untersuchten Messkraft (Nah- oder Fernbereich) und dem Aktuatorschema (mechanisch, elektrisch, magnetisch oder optisch). SPM ist ein gut etabliertes hochauflösendes Abbildungswerkzeug. Es wird häufig in interdisziplinären Projekten in den Bereichen Nanotechnologie und Nano-Optik eingesetzt und kann zur Untersuchung und Manipulation von Nano-Objekten wie einzelnen Atomen, einzelnen Molekülen und Quantenpunkten verwendet werden.

Zurich Instruments konzentriert sich auf die Herausforderungen der Instrumentierung in der SPM, insbesondere auf solche, die mit neuen Betriebsarten, neuen Sensoren oder schneller Echtzeit-Datenerfassung und Feedback-Schleifen zusammenhängen. Mit Instrumenten, die Frequenzen von DC bis 600 MHz abdecken, hilft Zurich Instruments SPM-Spezialisten, Datenanalysen im Zeit- und Frequenzbereich durchzuführen, um komplexe Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe zu erfassen und zu kontrollieren.

Wie in der Tabelle unten dargestellt, verfügt jede Instrumentenplattform über verschiedene Optionen, die es ermöglichen, dass ein SPM-Setup mit den Bedürfnissen des Anwenders wächst: So ist es beispielsweise möglich, mehrere Instrumente zu synchronisieren, wenn die Experimente komplexer werden.

Zurich Instruments bietet den SPM-Nutzern integrierte Lösungen mit Scienta Omicron für UHV-SPM-Systeme und mit Bruker Anasys Instruments für die Rasterkraftmikroskopie-Infrarot-Spektroskopie (AFM-IR) an und bietet eine einfache Analog- und DIO-Schnittstelle zu den meisten Mikroskopen von Drittanbietern über deren jeweiliges Signal Access Module (SAM). Alle intern vom Lock-in-Verstärker und den PID-Schleifen erzeugten Daten können in Form von mehreren Bildern oder einem getriggerten Datenstrom über das Datenerfassungsmodul (DAQ) erfasst werden. Vier analoge Hilfsausgänge stehen auf allen Geräteplattformen für eine schnelle und bequeme Anbindung an das Mikroskop zur Verfügung.

SPM Overview

Drei Gründe für Zurich Instruments in SPM-Experimenten  

  • Sie sind frei, beliebige SPM-Modi zu implementieren und neue Instrumentierungstechniken auf einer bestehenden SPM-Plattform zu entwickeln.
  • Das höchste Signal-Rausch-Verhältnis bzw. die höchste Demodulationsgeschwindigkeit ist garantiert, während die Optimierung der von Ihnen gewählten experimentellen Konfiguration sichergestellt ist.
  • Sie können Ihren Parameterraum dank einer Fülle von Analyse- und Datenerfassungswerkzeugen sowohl in der Zeit- wie auch der Frequenzdomäne erkunden.

 

Plattform MFLI HF2LI UHFLI
Frequenzbereich
Abtastrate
DC - 5 MHz
60 MSa/s
DC - 50 MHz
210 MSa/s
DC - 600 MHz
1,8 GSa/s
Geeignete Modi
Highlights
  • Höchste Empfindlichkeit unter 5 MHz
  • Threshold Unit (Schutz der Spitze)
  • Genaue Impedanzmessung möglich
  • Gleichzeitige vertikale und laterale Detektion
  • Steuerung von 2 separaten Ansteuerungsschemata
  • Mehrfache direkte Seitenbandanalyse
  • Höchste Datenübertragungsrate
  • Schnellste Demodulationsgeschwindigkeit
  • Arbiträres Ansteuerungsschema kombiniert mit Zeitbereichsanalyse
Relevante Optionen
Software und APIs LabOne®-Software und Anwendungsprogrammierschnittstellen (APIs) für Python, C, MATLAB®, LabVIEW™ und .NET für alle Plattformen verfügbar

Blättern Sie durch unsere SPM-Applikationsseiten, um mehr über einige der oben genannten Modi zu erfahren, und setzen Sie sich mit uns in Verbindung, um Ihre Anwendung oder Anpassungsanforderungen zu besprechen. Wir demonstrieren Ihnen gerne weitere Details in einem persönlichen Gespräch.

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